產品中心
Product center
能夠查詢缺陷數據並對缺陷數據進行編輯,可自由选择要进行分析的缺陷数据进行不同分析
將缺陷點根據座標轉換成缺陷Map图,可快速查看出每片产品的缺陷分布情况
可將不同產品缺陷Map堆叠到一起,从而快速分析出缺陷高发位置以及缺陷聚集形态,并于设备结构坐标做对比
可通過同一產品在不同階段的座標進行對比,从而判断和追溯缺陷的产生原因,从而分析出缺陷产生的原因